什么是X射線分析儀？

X射線分析儀是一種根據(jù)物體受到X射線照射時的熒光X射線光譜來分析元素含量的裝置。

X射線光譜儀用于物質(zhì)的定性和定量分析，由于可以在短時間內(nèi)檢查樣品而不破壞樣品，因此被用作分析物質(zhì)成分的方法。

X射線光譜儀可以測量固體和液體，作為一種定性分析方法，它們的靈敏度相對較高，使其成為高度可靠的檢測設(shè)備。

X射線分析儀的應(yīng)用

X射線分析儀可以對樣品進行無損定性和定量分析，無論樣品是固體還是液體。特別用于檢驗合金材料和土壤中有害金屬的存在和含量。

例如，X 射線分析在研究巖石和隕石等成分未知的物質(zhì)的成分時非常有效。近年來，從環(huán)境和安全的角度出發(fā)，提倡無鹵印刷線路，并使用X射線分析設(shè)備來確保這一點。此外，還用于有害化學(xué)物質(zhì)的定性和定量測定，以及RoHS指令規(guī)定物質(zhì)的檢查。此外，方便攜帶的便攜式設(shè)備也已上市，其應(yīng)用領(lǐng)域也在不斷擴大。